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超薄DR平板探测器更利于相关仪器设备的安装。其技术更先进，是一种X线直接转换技术，它利用硒作为X线检测器，成像环节少；CR是一种X线间接转换技术，它利用影像板作为X线检测器，成像环节相对DR较多。DR和CR将穿透被照射物体后的X线信息转化为数字信息，灰阶由胶片的256级提升至2048级、能在计算机中处理、因而可通过软件和功能实现图像的优化、图像质量大大提高。DR的核心技术是它的平板(FP)、采用一个带有碘化铯闪烁器的单片非结晶硅面板．将吸收的X光信号转换成可见光信号、再通过低噪声光电二极管阵列吸收可见光．并转换为电信号、然后通过低噪声读出电路将每个像素的数字化信号传送到图像处理器，由计算机将其集成为X线影像，以DOE为评价参数．DR是最高的．因而其图像层次丰富、影像边缘锐利清晰，细微结构表现出色．CR则将信息首先记录在涂有氟化钡的IP板上．再通过扫描装置实现数字化转换，其曝光条件仍由所匹配的X线成像设备所限制．因而图像与DR相比略逊。CR的图像对比度和噪声的表现也不错．这可能与其摄影时使用较高的mAs有关。
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数字放射成像 |
工业无损检测 |
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有效区域： |
35x43 厘米（10x8 英寸） |
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像素大小： |
139 微米 |
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有效矩阵： |
1920 x 1536 |
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填充因子： |
57% |
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帧率： |
10FPS-1x1 |
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最大能量： |
150 千伏 |
Q Q： 1121225891
